反射样品支架
反射法测试适用于所有无法采用透射法的场景,例如块体材料、液体或薄膜样品的衍射分析。
特点
· 通过参考刀片进行样品高度精密校正
· 零背景样品薄膜(可选带凹槽或不带凹槽款式)
适用型号:STADI P / MP
反射样品自动进样器
反射样品自动进样器采用独立模块化设计,支持每个样品进行独立高度校准。本设备具备样品测试通量高、速度快、运行稳定可靠、数据质量优异等优势,为用户带来卓越使用体验。每个文件均带有唯一标识符,可通过灵活的 WinXPOW 文件管理系统进行访问。
· 最大样品容量:12个
· 样品支持独立、便捷的高度调节(最高样品厚度20 mm)
· 由STOE软件WinXPOW进行控制
适用型号:STADI P / MP

