紧凑型台式设计
无缝融入现代实验室环境，在不牺牲性能的前提下节省占地面积。
| 仪器型号 | 仪器尺寸 |
| Lattice Mini | W 500 mm × D 400 mm × H 650 mm |
| Lattice Basic | W 680 mm × D 550 mm × H 900 mm |
| Lattice Pro | W 680 mm × D 550 mm × H 900 mm |
Lattice系列（XRD）凭借高功率性能与紧凑型设计，重新定义了台式X射线衍射仪。该系列搭载功率可达600瓦（Lattice系列迷你型）或1600瓦的X射线源，以及高效的光子直读二维探测器，能输出超高强度与精度的数据，是严苛分析场景的理想之选。
Lattice系列提供三种配置方案——Lattice Mini、Lattice Basic和Lattice Pro，可满足从简单物相识别到复杂原位研究等不同技术需求与预算范围。全型号均具备出色的信噪比与快速扫描能力，以台式设备的体型实现了实验室级别的数据输出。
无论您是分析复杂粉末、晶体材料，还是进行高通量检测，Lattice系列都能以高速、高功率和高精度呈现实验室级结果，且全程无需占用过多实验空间。
作为高品质X射线衍射分析的入门之选，该型号专为追求可靠物相识别与材料表征且空间有限的用户设计，以紧凑经济的配置实现了强劲性能。
高校教学实验室
小型科研团队
陶瓷、金属及矿物领域的常规质量控制
快速物相筛选与基础材料研究
该型号专为需要可靠高通量衍射分析、无需复杂定制配置的实验室打造。凭借高角度分辨率与光子直读二维探测器，它能对各类粉末样品进行快速精准分析，在保证精度、速度与可靠性的同时具备高性价比，是此类用户的优质选择。
质量控制实验室
材料表征领域
教育及科研机构
水泥、陶瓷、金属与制药行业
该型号专为高难度应用场景设计，采用θ-θ几何结构，提升了样品稳定性并增强了附件兼容性，可对先进材料、涂层材料进行高精度高性能分析，同时支持应力检测。
高级研发环境
动态实验研究
残余应力分析
薄膜、涂层及薄层材料表征
电池与能源材料研究
提供600瓦和1600瓦两种功率配置，可实现高强度数据采集与快速扫描。
光强变化和光管功率提升关系图
800 W和1000 W光管功率实测标准物质衍射谱
数分钟内即可获取全谱数据，适配常规质量控制与高通量实验室需求。
全谱数据
直观的软件与简化的硬件设计，降低了培训成本与日常操作难度。
操作软件界面
256×256像素阵列，能捕捉清晰、高分辨率的衍射图谱，且信噪比出色。
二维阵列探测器光斑成像和衍射花纹（硅单晶粉末和铅锌矿晶体）
Lattice Mini和Lattice Basic配备θ-2θ几何结构，适用于标准分析；Lattice Pro采用θ-θ几何结构，提升样品稳定性。
θ-θ测角仪样品安装和测试
2θ角度精度可达±0.01°，确保与标准参考材料的衍射峰精准匹配。
石英SiO2（101）26.64°衍射峰9次重复测量
（PDF 卡片号00-046-1045）
刚玉标准样品的理论衍射峰与实测衍射峰对比
（NIST-1976a）
| 米勒指数 | 理论衍射峰位置 | 实测衍射峰位置 | 差值 |
| 012 | 25.579 | 25.577 | 0.002 |
| 104 | 35.153 | 35.15 | 0.003 |
| 116 | 57.497 | 57.497 | 0 |
| 1010 | 76.871 | 76.872 | 0.001 |
| 0210 | 88.997 | 88.996 | -0.001 |
| 0114 | 116.612 | 116.61 | -0.002 |
石英SiO2（101）26.64°衍射峰数据（PDF 卡片号 00-046-1045）
| 型号 | 峰位平均值(2θ) | 峰位重复性(2θ) | 峰强平均值 | 峰强 RSD |
| Lattice Pro | 26.647 | ≤±0.01° | 67002.5 | ≤0.5% |
无缝融入现代实验室环境，在不牺牲性能的前提下节省占地面积。
| 仪器型号 | 仪器尺寸 |
| Lattice Mini | W 500 mm × D 400 mm × H 650 mm |
| Lattice Basic | W 680 mm × D 550 mm × H 900 mm |
| Lattice Pro | W 680 mm × D 550 mm × H 900 mm |
支持残余应力测试、高温样品台、原位电池研究、薄膜分析等高级模块。
| 仪器型号 | Lattice Mini | Lattice Basic | Lattice Pro | |
|---|---|---|---|---|
| 仪器尺寸和重量 | W 500 mm × D 400 mm × H 650 mm, 60 kg | W 680 mm × D 550 mm × H 900 mm, 100 kg | W 680 mm × D 550 mm × H 900 mm, 100 kg | |
| 典型匹配功率 | 600W | 1200W/1600W | 1600W | |
| 射线管靶材 | 常规封闭靶， Cu 靶 （多种阳极靶材可选） | |||
| 测角仪 | 样品水平立式θ-2θ 测角仪半径158毫米 | 样品水平立式θ-2θ 测角仪半径170毫米 | 样品水平立式θ-θ 测角仪半径170毫米 | |
| 探测器 | 光子直读二维阵列探测器 | |||
| 探测器能量分辨率 | ≤ 0.2（@8.04keV) | ≤ 0.2 （@8.04keV) | ≤ 0.2 （@8.04keV) | |
| 角度范围 | -3° ~ 156° | -3° ~ 156° | -3° ~ 156° （+/-20°) | |
| 角度精度 | ≤ ± 0.01°(NIST-1976a) | |||
| 样品台 | 标准玻片样品台 | |||
| 可选配件 | 无 | 五位进样器；原位电池测试附件 | 五位进样器；原位电池测试附件； 高温样品台（可定制，如室温-600℃ 室温-1000℃）； 残余应力测量夹具（可定制）； 薄膜样品台： ( 尺寸：60 mm × 60 mm，可定制 ) | |
Lattice系列不仅在参数上表现优异，更能在各类材料与行业的实际应用中稳定输出结果。从标准参考材料到先进复合材料，其高数据强度、精
度与重复性确保每次扫描结果都值得信赖。无论是测量石墨化程度、应力、结晶度还是物相含量，Lattice系列系列都能提供可靠的性能支撑与
定量数据。
PDF标准卡片：PDF#97-024-7093(Zeolite-LZ-Y54)
晶系：立方；空间群：Fd m(227)
晶胞参数：a=24.611Å； b=24.611Å； c=24.611Å；α=90°，β=90°，γ=90°
不同晶化温度合成SBA-15分子筛XRD衍射图谱
随晶化温度升高( 100)、 (110) 及(200) 晶面衍射峰强度增强，并向小角度偏移，证明适度的提高晶化温度，促进了硅铝酸盐的聚合速度，SBA15分子筛的孔径和有序度随之增加。
金红石TiO2PDF标准卡片：PDF#97-003-1322
晶系：四方；空间群：P42/mnm(136)
晶胞参数：a=4.5937Å； b=4.5937Å； c=2.9587Å；α=90°，β=90°，γ=90°
锐钛矿TiO2PDF标准卡片：PDF#97-009-3098
晶系：四方；空间群：I41/amd(141)
晶胞参数：a=3.784Å； b=3.784Å； c=9.5Å；α=90°，β=90°，γ=90°
通过表征XRD衍射谱图，可定量分析混合物质中各自的含量。示例如刚玉Al2O3与石英SiO2的混合物。
通过表征混合物XRD衍射谱图，可定性出该混合物含有刚玉Al2O3及石英SiO2物相；
Al2O3粉末的标准卡片为 674a - Al2O3(PDF#01-089-7717)；
石英SiO2粉末的标准卡片为PDF#00-046-1045。
通过全谱精修拟合(WPF)，可以表征混合物中各自含量。从图中分析可得，SiO2的含量是非常少的，计算其只有0.5%含量，而Al2O3的含量达到99.5%。
通过分析XRD衍射谱图的结晶峰与非结晶峰的面积之比，可以分析得到其晶体的结晶度。
如图所示， 高分子聚合物具有5个强的晶面衍射峰； 同时在衍射峰20°及24°具有非结晶的馒头峰；通过计算得到其结晶度为54.96%。
如图所示，Y型分子筛具有从低角度至高角度非常强晶面衍射峰；但是在主衍射峰内具有非常少量的非结晶的馒头峰；通过计算得到其结晶度为92.63%。
表征氮化铝陶瓷XRD衍射谱图，可定性及定量分析出该陶瓷片含有少量的Y2O3物相。
氮化铝PDF标准卡片：PDF#01-070-2545
晶系：六方；空间群：P63mc(186)
晶胞参数：a=3.1154Å； b=3.1154Å； c=4.97817Å；α=90°，β=90°，γ=120°
PDF标准卡片：PDF#01-089-7717
晶系：六方；空间群：R-3c(167)
晶胞参数：
a=4.75728Å； b=4.75728Å； c=12.98658Å；α=90°，β=90°，γ=120°
PDF标准卡片：PDF#97-041-2737
晶系：六方；空间群：P3121(152)
晶胞参数：
a=5.03650Å； b=5.03650Å； c=11.24151Å；α=90°，β=90°，γ=120°
PDF标准卡片：PDF#97-016-5000
晶系：正交；空间群：Pnma(62)
晶胞参数：
a=10.32777Å； b=6.00711Å； c=4.69191Å；α=90°，β=90°，γ=90°
氧化钇PDF标准卡片：PDF#01-086-1107
晶系：立方；空间群：Ia (206)
晶胞参数：a=10.61966Å； b=10.61966Å； c=10.61966Å；
α=90°，β=90°，γ=90°
掠入射X射线衍射衍射(GID)在表面科学及工程应用广泛，尤其在半导体晶体表面结构扩散、离子注入、外延、氧化及腐蚀等形成的表面。如图所示为采用Cu-Kα，λ=0.1548nm为射线源，掠入射角度为0.5°表征Cu薄膜表面的结构性质。
PDF标准卡片：PDF#01-071-4609
晶系：立方；空间群：Fm m (225)
晶胞参数：a=3.61150Å； b=3.61150Å； c=3.61150Å；
α=90°，β=90°，γ=90°
PDF标准卡片：PDF#00-009-0430
晶系：六方；空间群：P6/mcc (192)
晶胞参数：a=9.215Å； b=9.215Å； c=9.192Å；
α=90°，β=90°，γ=120°
